疲労耐久試験 疲労耐久試験 | HBM

疲労耐久試験: ±5,000 µm/m で1千万回の負荷サイクルを許容するオプチカルストレインゲージ

高い応力での疲労耐久試験では、使用される計測機器などに対して極度な要求が与えられます。ここでは、従来の電気式ストレインゲージ(ひずみゲージ)が持つ制限がそれに当たります。

最新の オプチカル(光学式)ストレインゲージ は、このようなケースに対して、最適なソリューションを提供します。

HBM の K-OP (光学式タイプ)ストレインゲージは、 ±5,000 µm/m の両振荷重での継続した振動運動の状況下で、1千万回の負荷サイクルを許容します。オプチカルストレインゲージは、危険または爆発可能性雰囲気環境下での使用や、高電流・高電圧エンジニアリングでのコンポーネントでの使用にも適しています。

HBMのオプチカルストレインゲージが持つ計り知れないパフォーマンス能力は、激しい試験を通じてある独立した研究機関で確認されました。

もう一つのメリット: 現在すでに従来の電気式ストレインゲージをお使いのユーザー様にとっては、オプチカルストレインゲージへアップグレードさせることがとても簡単です。 特許取得のHBMのオプチカルストレインゲージは、ガラスファイバを保護し設置のしやすさを向上させたデザインになっています。

オプチカルストレインゲージのさらなるメリットは: 複数のセンサを1本のガラスファイバ上で使用できることです。これは重要な点で、これにより設置中の出費を抑えることができます。 また、オプチカルストレインゲージには、ゲージファクター等、必要なデータが明記されたデータシート納入時に添付されます。

計測データの記録とその後の解析作業もきわめてシンプルです。 HBM なら、計測から解析まで、一連のタスクに必要な全てを1社で供給します。

例えばこの場合、 オプチカルストレインゲージ から インテロゲータ 等の必要な機器・アクセサリを通じて、果ては オプチカルストレインゲージ用の特別なモジュールを持った catman®AP データ収集ソフトウェアやその他の解析ソフトウェアまで、全てがHBMで揃います。

Fatigue life

If a strain gage is subjected to an alternating strain which can be superimposed over a static mean strain, an increase in the number of load cycles may create changes with regard to the zero point. The fatigue life is dependent upon the number of strain cycles and their amplitude and is independent of applied strain duration.