Optical strain gages는 ±5,000 µm/m에서 천만 회 이상 계측이 가능합니다.

높은 스트레인에서 Fatigue life tests는 높은 사양의 시스템이 필요합니다. 이런 시험에서 일반적인 스트레인 게이지는 한계가 있습니다.

optical strain gages의 가장 최신 제품은 이런 시험에 대해 최적화된 해결책을 제공합니다.

HBM의 KOP스트레인 게이지는 ±5,000 µm/m의 진동 영역에서도 천만 번의 하중 싸이클 동안 사용할 수 있습니다. Optical 스트레인 게이지는 폭발성 기체와 그리고 고전압, 고전류 지역에서도 측정이 가능합니다.

HBM optical스트레인 게이지의 뛰어난 성능은 학회의 집중적인 테스트를 통해서 확인됐습니다.

또 다른 이점: 기존 방식의 스트레인 게이지를 사용해오셨던 분들도 optical스트레인 게이지로 간단하게 업그레이드하실 수 있습니다.

특허를 획득한 HBM의 디자인은 끊어지기 쉬운 광섬유를 보호하며 간편하게 설치하실 수 있습니다.

Optical 스트레인 게이지의 더 나은 이점: 한 가닥의 광섬유에서 여러 포인트를 계측할 수 있습니다. 따라서 설치 경비를 줄일 수 있습니다. 데이터 시트가 optical스트레인 게이지와 함께 제공됩니다. 데이터 시트는 게이지 팩터와 같이 스트레인 측정을 위해 필요한 모든 데이터를 포함하고 있습니다.

측정 데이터의 저장과 분석은 매우 간단합니다. HBM은 계측에 필요한 요소들을 한번에 제공합니다. 고객 여러분들은 Optical Strain Gage 뿐만 아니라 스트레인 게이지 악세서리부터 파장 분석 장치와 EasyOptics가 포함된 Catman AP 계측 소프트웨어까지 한번에 구매하실 수 있습니다.