此文章描述了如何通过改变材料和尺寸,使用数字理论测量应变片的特性,满足特殊需要.
作者建立了一套测量应变片特性的影响量的工具,而无需进行长期的监控...
Published by: Klaus Hufnagel, Yu Tao (Technical University, Darmstadt, Germany)