스트레인 게이지를 사용한 스트레인의 장기간 측정 및 스트레인게이지 트랜스두서의 안정성

스트레인 게이지 및 스트레인 게이지 트랜스두서에 지속적인 하중이 가해지는 동안에, 장기간 안정성(주위 온도 및 실험실 조건에서)의 평가를 목적으로 하는 실험의 결과가 보고 되었습니다.

스트레인 게이지 및 스트레인 게이지 트랜스두서에 지속적인 하중이 가해지는 동안에, 장기간 안정성(주위 온도 및 실험실 조건에서)의 평가를 목적으로 하는 실험의 결과가 보고 되었습니다. 일련의 예비 실험은 두 개의 1 kN 트랜스두서에 1년 이상 하중을 가하였는데, 하나는 공칭 (2 mV/V)의 100%를, 다른 하나는 공칭 힘의 50%를 가하였습니다.

그런뒤, 장기간 스트레인 측정에 대한 스트레인 게이지 형태, 길이, 본딩 및 스트레인의 사인 등의 영향에 대한 자세한 조사가 이어졌습니다. 하중을 가하는 동안의 그리프 곡선(Creep curve) 및 하중을 제거한 뒤의 크리프 회복 곡선은 그래프로 보여 줍니다. 장기간 동안의 안정성에서의 큰 변동성은, 0.2% 이하에서 1% 이상으로, 관측 됩니다.