多様なダイナミック試験に適したデータ収集ボード(GN840B、GN1640B)

ユニバーサルデータ収集ボードは全チャンネルで9種類のセンサ信号をサポートし、多種類のセンサ入力を必要とする計測タスクで高速なデータ収集が行えます。

各チャンネルは24ビットの分解能をもち500kS/sの高速サンプリングが可能で、衝撃試験や振動試験などの機械量のテストに適しています。チャンネル数は8または16チャンネルから選べます。1台で多様な入力信号を収集できるため専用ボードの追加が必要なく優れたコストパフォーマンスを実現します。

1チャンネルあたり500kS/sの高速サンプリングレートで多種類のセンサが選べる高い汎用性

多様な入力をサポート

全チャンネルで9種類のセンサ信号を入力可能:

  • 1、2、4ゲージ式ひずみゲージ(120 Ωおよび350 Ω)の構成で使用
  • IEPEセンサ
  • 圧電式センサ(電荷型)
  • 測温抵抗体RTD(例:Pt100、Pt1000)
  • 熱電対
  • 4~20 mA
  • 10 V 

ダイナミックな機械テストに完全対応

高速

  • 周波数帯域210 kHz
  • 1chあたり 0.1~500,000 S/sのサンプリングレートから選択可能
  • デジタルIIR (無限インパルス応答)フィルタとのアナログ・アンチ・エリアスフィルタの組み合わせでエリアスの除去を最適化
  • ベッセルIIR、バターワースIIR、エリプティックIIR、エリプティック・バンドパスIIRが選択可能

ダイナミック機械テスト用に高性能な機能を提供

リアルタイム

  • リアルタイム演算データベースを備え、計測と同時にほぼすべての演算をリアルタイムで実行可能
  • 演算結果によりデータ記録をトリガリング
  • 演算結果を1 ms でEtherCATへ送信

テストベンチ・アプリケーションを自動化

技術資料

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