疲勞壽命測試: 在 ±5,000 µm/m 範圍內,光緒應變計可以承載1千萬次測試

大應變下的疲勞壽命測試 對測試設備有極高的要求. 而傳統的應變計往往達到了其物理限制.

新一代的光學應變計 是這種情況下的理想選擇. HBM 的 K-OP 應變計可以在 ±5,000 µm/m 範圍內,光緒應變計可以承載1千萬次測試. 光學應變計也同樣可以應用在可能爆炸的環境下,或者是大電流和高電壓的元件測試.

HBM 光學應變計的性能得到了獨立的測試機構的認證.

優勢:新一代的光學應變計 使用方法和傳統的電子應變計相同. 帶有專利的 HBM 光學應變計可以保護光纖,安裝使用更加方便.

光學應變計的另外一個優勢是: 多個感測器可以集成在一根光纖中.可以降低安裝費用. 另外,資料表包含著光學應變計中,其包括所有必須的應變測量資料,如應變係數.

測試資料的記錄和評估也非常簡單. HBM 可以為你提供完整的測試鏈:從光學應變計 以及相應的附件以及多工器 和 catman®AP 資料獲取軟體, 其帶有一個專門用於光學應變計的 EasyOptics 模組.

Fatigue life

如果應變計通過靜態的應變進行加壓測試, 通過零點的變化就可以記錄負載次數.疲勞壽命取決於應變次數和振幅週期.

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