疲劳寿命测试: 在 ±5,000 µm/m 范围内,光绪应变计可以承载1千万次测试

大应变下的疲劳寿命测试 对测试设备有极高的要求. 而传统的应变计往往达到了其物理限制.

新一代的 光学应变计 是这种情况下的理想选择. HBM 的 K-OP 应变计可以在 ±5,000 µm/m 范围内,光绪应变计可以承载1千万次测试. 光学应变计也同样可以应用在可能爆炸的环境下,或者是大电流和高电压的元件测试.

HBM 光学应变计的性能得到了独立的测试机构的认证.

优势:新一代的光学应变计 使用方法和传统的电子应变计相同. 带有专利的 HBM 光学应变计可以保护光纤,安装使用更加方便.

光学应变计的另外一个优势是: 多个传感器可以集成在一根光纤中.可以降低安装费用. 另外,数据表包含着光学应变计中,其包括所有必须的应变测量数据,如应变系数.

测试数据的记录和评估也非常简单. HBM 可以为你提供完整的测试链:从 光学应变计 以及相应的附件以及 多工器 和 catman®AP 数据采集软件, 其带有一个专门用于光学应变计的 EasyOptics 模块.

Fatigue life

如果应变计通过静态的应变进行加压测试, 通过零点的变化就可以记录负载次数.疲劳寿命取决于应变次数和振幅周期.

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